Исследование поверхности твердых тел методами туннельной и атомно-силовой спектроскопии

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 24 Мая 2013 в 22:34, лабораторная работа

Описание

Цель работы: Освоение сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) как метода исследования поверхности
твердых тел.
Изучение принципа работы сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового
микроскопа (АСМ).
Исследование поверхности образца – тонкая пленка оксида алюминия на поверхности
проводящей подложки алюминийсодержащего сплава фекралой.