Исследование поверхности твердых тел методами туннельной и атомно-силовой спектроскопии
Лабораторная работа, 24 Мая 2013, автор: пользователь скрыл имя
Описание
Цель работы: Освоение сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) как метода исследования поверхности
твердых тел.
Изучение принципа работы сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового
микроскопа (АСМ).
Исследование поверхности образца – тонкая пленка оксида алюминия на поверхности
проводящей подложки алюминийсодержащего сплава фекралой.